铁谱仪显微镜 FX-4
一、用途及特点
正置式铁谱/金相显微镜广泛用于金相、岩相、集成电路、晶体等的检验科学研究工作 。仪器造型新颖、结构稳固，功能齐全，采用了无穷远成像系统，全新平场消色差物镜和大视场目镜，设有专用摄影、摄像接口，其成像清晰平坦、视域开阔，具有景深大和图像清晰等特点。内置明视场、暗视场及偏光系统，可方便进行摄影、摄像及图像分析工作，确保使用者快速操作。
二、主要技术参数
1. 物镜
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放大倍数
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数值孔径
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工作距离
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介质
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使用范围
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P4×
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0.1
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23.2
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空气
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明场
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P10×
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0.25
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16.5
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空气
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明场，暗场
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P20×
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0.40
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1.6
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空气
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明场，暗场
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P40×
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0.65
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0.55
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空气
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明场
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P80×
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0.90
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0.2
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空气
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明场
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2. 目镜
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放大倍数
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焦距
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视场直径
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备注
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8×
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31.25
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φ18
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10×
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25
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φ18
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10×
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25
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φ18
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带有0.1mm分划板
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12.5×
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20
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φ14
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3. 物镜、目镜组合后的放大率：32×至1000×。
4. 摄影目镜：4×（135摄影）。
5. 同轴粗微动调焦：调节范围36mm（NJL-1型24mm）
微动格值0.002mm。
6. 机械移动载物台：185mm×142mm，移动范围75×55 mm。
7. 电源：输入电压：110V~220 V（宽电压自适应）； 输出电压：0 ~12 V，（0 ~50W）无级变光，连续可调
8. 照明：12V50W卤素灯光源，可以连续调压（适用垂直照明器）；12V20W卤素灯光源，可以连续调压（适用透射光照明）
9. 仪器功能：明场、暗场、偏光、摄影等。
10. 仪器体积：长450mm，宽284mm，高460mm。
11. 仪器重量：13.5 kg